cpk计算公式:CPK=Cp*(1-|Ca|)。
CPK是“Combined Public Key”的缩写,中文名为组合公钥,是一种加密算法,以很小的资源,生成大规模密钥。
分类:标识密钥、分割钥匙、组合钥匙。是制程水平的量化反映。制程能力指数:是一种表示制程水平高低的方便方法,其实质作用是反映制程合格率的高低。
Ca(Capability of Accuracy):制程准确度;在衡量实际平均值与规格中心值之一致性。对於单边规格,因不存在规格中心,因此不存在Ca;对於双边规格,Ca=(ˉx-U)/(T/2)。
Cp(Capability of Precision):制程精密度;在衡量规格公差宽度与制程变异宽度之比例。
过程能力指数
过程能力指数是指过程能力满足产品质量标准要求(规格范围等)的程度。也称工序能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。
它是工序固有的能力,或者说它是工序保证质量的能力。这里所指的工序,是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程,也就是产品质量的生产过程。
过程能力指数(Process capability index)表示过程能力满足技术标准(例如规格、公差)的程度,一般记为CPK。
计算公式:CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ,(Mu - LSL)/3σ]
1、双侧规格
双侧规格情形的过程能力指数,这时,过程能力指数CP的计算公式如下:式中,T为过程统计量的技术规格的公差幅度;TU、TL分别为上、下公差界限;σ为过程统计量的总体标准差,可以在过程处于稳态时得到。
2、有偏移情形
有偏移情形的过程能力指数:当过程统计量的分布均值μ与公差中心M不重合(即有偏移)时,如图1所示,显然不合格率(如图1上的PU)增大,也即CP值降低,故式(1)所计算的过程能力指数不能反映有偏移的实际情形,需要加以修正。
定义分布的总体均值μ与公差中心M的偏移为ε=|M-μ|,μ与M的偏移度为K:
这样,当μ=M(即分布中心与公差中心重合,无偏移)时,K=0,则CPK=CP;而当μ=TU或μ=TL时,K=1,CPK=0,表示过程能力由于偏移而严重不足,需要采取措施加以纠正。显然,具有:
CPK≤CP
3、单侧规格
单侧规格情形的过程能力指数:若只有规格上限的要求,而对规格下限无要求,则过程能力指数计算如下:
式中,CPU为上单侧过程能力指数。若μ≥TU,令CPU=0,表示过程能力严重不足,过程的不合格品率高达50%以上。
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