静力触探实验中的单桥探头和双桥探头的区别如下：
1、组成不同
静力触探实验中的单桥探头由带外套筒的锥头、传感器、顶柱和电阻应变片组成，有效侧壁长度为锥底直径的1.6倍。
静力触探实验中的双桥探头除锥头传感器外，还由侧壁摩擦传感器及摩擦套筒组成。
2、优势不同
静力触探实验中的单桥探头的触探成本低、应用广、经验公式多。
静力触探实验中的双桥探头可测出更多参数，国内外通用。
扩展资料
静力触探实验的发展：
静力触探自1917年瑞典正式使用以来，迄今已有余年历史。目前，该项测试技术在很多国家都被列入国家技术规范中，并在世界范围内得到了广泛的应用。
静力触探试验主要适合于黏性土、粉土和中等密实度以下的砂土等土质情况。由于目前尚无法提供足够大的稳固压入反力，对于含较多碎石、砾石的土和很密实的砂土一般不适合采用。此外总的测试深度不能超过80m。
通过一定的机械装置，用准静力将标准规格的金属探头垂直均匀地压入土层中，同时利用传感器或机械量测仪表测试土层对触探头的贯入阻力，并根据测得的阻力情况来分析判断土层的物理力学性质。
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