运用X射线荧光分析大部分获取的是样品表面的数据信息吗？

Question

还是连样品内部信息也能获取。

Answer 1

个人测试经验，仅供参考：X射线荧光光谱分析仪（XRF）与ICP,AAS测试原理相近，前者是用物理方法，用原子表层电子结合能反应表面化学成份；后两者是用化学方法，利用不同元素的光谱波长及强度进行定性定量分析；XRF优势：测试成本低，操作简便，不用破坏被测样品，比较适合测试均质物质或表面镀层产品，缺点：数据稳定性与精确度不及ICP及AAS.
ICP及AAS类仪器都是用化学方法进行测试，优势：数据精确度高，重复性佳，一般第三方都是以此种方法进行，缺点：测试效率低，污染大，测试成本高.
样品多的话建议购买1台XRF和1台ICP，XRF对样品进行初步筛选检测，有问题的再用ICP进行精确定量.很多规模较大的实验室都是这样操作的.