CP是一种用于测量机器或过程潜在能力的指数。CP更适合表现工序的加工能力(在不考虑规格的情况下),而CPK是一种用于测量机器或过程在生产规格范围内产品的能力的指数。CPK更适合于表现过程生产出产品的不良率。
CP与CPK的区别:
1、 只有在计量值为双侧公差而且分布中心和标准中心重合的情况下,CP=CPK(此时K=0)。
2、 当质量特性分布中心恰好位于标准上限或下限时,则K=1。
3、 当质量特性分布中心位于标准界限之外时,则K>1。K值是越小越好。
因为质量分布中心与标准中心在生产实际中往往并不重合,所以实际有效的标准范围就不能完全利用。在产生偏移后,分布在中心左侧能力的增加值补偿不了右侧的工序能力的损失值。只能以两者中较小值来计算工序能力指数。这个工序能力指数也可称为修正工序能力指数,记作CPK。修正工序能力指数就是一般的工序能力指数。
CP是一种用于测量机器或过程潜在能力的指数。CP更适合表现工序的加工能力(在不考虑规格的情况下),而CPK是一种用于测量机器或过程在生产规格范围内产品的能力的指数。CPK更适合于表现过程生产出产品的不良率.
CP与CPK的区别:
1、 只有在计量值为双侧公差而且分布中心和标准中心重合的情况下,CP=CPK(此时K=0)。
2、 当质量特性分布中心恰好位于标准上限或下限时,则K=1。
3、 当质量特性分布中心位于标准界限之外时,则K>1。K值是越小越好。
统计质量控制阶段
1924年,美国数理统计学家W.A.休哈特提出控制和预防缺陷的概念。他运用数理统计的原理提出在生产过程中控制产品质量的“6σ”法,绘制出第一张控制图并建立了一套统计卡片。与此同时,美国贝尔研究所提出关于抽样检验的概念及其实施方案,成为运用数理统计理论解决质量问题的先驱,但当时并未被普遍接受。
以数理统计理论为基础的统计质量控制的推广应用始自第二次世界大战。由于事后检验无法控制武器弹药的质量,美国国防部决定把数理统计法用于质量管理,并由标准协会制定有关数理统计方法应用于质量管理方面的规划,成立了专门委员会,并于1941~1942年先后公布一批美国战时的质量管理标准。
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